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●测(ce)试电压/测(ce)量(liang)量(liang)程
25 V ≦ V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ)
100 V ≦ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ)
500 V ≦ V ≦ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ)
●基(ji)本精度:+2 % rdg. ±5 dgt. @ 25 V ≦ V < 100 V [0~20 MΩ]
●测(ce)试速度:FAST:30 ms/次，SLow:500 ms/次(切换)
●存储(chu)内容:额(e)定(ding)测量电压、比(bi)较器上下限值、测试(shi)模式、判定(ding)时蜂鸣音(yin)、
测试时(shi)(shi)间(jian)、响应时(shi)(shi)间(jian)、电阻量程、测量速度;存储数(shu):最多10组
(可保存/读取)
●快速释放残留电压
●任(ren)意设置(zhi)试验电压值(25~1000V(1V分(fen)辨率)设置(zhi))
●接(jie)触检查功能(防止由于接(jie)触不(bu)良造成(cheng)的(de)误判(pan)断(duan))
●短路检查功能(防止不合格品流入市(shi)场(chang))
●测试电压/测量量程
25 V ≦ V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ)
100 V ≦ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ)
500 V ≦ V ≦ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ)
●基(ji)本精度:+2 % rdg. ±5 dgt. @ 25 V ≦ V < 100 V [0~20 MΩ]
●测试速度:FAST:30 ms/次，SLow:500 ms/次(切换)
●存储内容:额定(ding)测(ce)量(liang)电(dian)压、比较器上下限值(zhi)、测(ce)试模(mo)式(shi)、判定(ding)时蜂鸣(ming)音、
测试时(shi)间、响应时(shi)间、电(dian)阻量程、测量速度;存(cun)储数(shu):最多10组
(可保存/读取)
●快速释放残留电压
●任(ren)意设置试验电压(ya)值(25~1000V(1V分辨率)设置)
●接触检(jian)查功(gong)能(neng)(防止由于接触不良造成的误判断)
●短路检查(cha)功能(防止不(bu)合格品流入(ru)市场)
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