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用途:用于获取材料表面的纳米级三维形貌结构、纳米力学、纳米电学性能等。
型号:Dimension Icon、Dimension Edg、
Dimension Edge PSS等
基本参数:
●垂直方向分辨率(lv):<0.1 nm
●水平(ping)方向分辨(bian)率:<1nm
●Z方向扫描范围:<10 um
●XY方向扫描范围:90um X 90um(典(dian)型值)
●样品台(tai)尺寸:210 mm
功能模块:
●Peak force tapping:峰值力(li)轻敲模式(shi)
●Peak force Tuna:表征纳米电学
●Peak force ONM:表(biao)征纳(na)米力学
● Peak force SECM:表征纳米电(dian)化(hua)学
●Peak force KPFM:表征纳米表面(mian)电(dian)势(shi)
技术优势:
●最先(xian)进的XYZ全(quan)探针扫描(miao)方式和全(quan)自(zi)动大样(yang)品台
●独有(you)的Peak froce Tapping专利(li)技术(shu)和智能扫描模式(ScanAsyst)
●最完整的力(li)学、电(dian)学、电(dian)化学测试功能和最灵活的拓展(zhan)性
用途:用于获取材料表面的纳米级三维形貌结构、纳米力学、纳米电学性能等。
型号:Dimension Icon、Dimension Edg、
Dimension Edge PSS等
基本参数:
●垂直方(fang)向分辨(bian)率:<0.1 nm
●水(shui)平方(fang)向分辨(bian)率:<1nm
●Z方向(xiang)扫(sao)描范围:<10 um
●XY方向扫(sao)描范围:90um X 90um(典型值)
●样品台(tai)尺寸(cun):210 mm
功能模块:
●Peak force tapping:峰值力(li)轻敲模式
●Peak force Tuna:表征纳米电学
●Peak force ONM:表征纳米力(li)学(xue)
● Peak force SECM:表征(zheng)纳(na)米电化学(xue)
●Peak force KPFM:表(biao)征纳米表(biao)面(mian)电势
技术优势:
●最先进的XYZ全探(tan)针扫描方式和全自动大样品台(tai)
●独有(you)的Peak froce Tapping专(zhuan)利技(ji)术和(he)智(zhi)能扫描模式(ScanAsyst)
●最(zui)完整的力学、电学、电化学测试功能和(he)最(zui)灵活的拓(tuo)展性(xing)
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