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浏览器自带分享功能也很好用哦~TH510系列半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。
仪器采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试，适用于生产线快速测试、自动化集成。
CV曲线扫描分析能力亦能满足实验室对半导体材料及功率器件的研发及分析。
仪器设计频率为1kHz-2MHz，VGS电压可达±40V，VDS电压可达±200V/±1500V/±3000V，足以满足大多数功率器件测试。
仪器采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试，适用于生产线快速测试、自动化集成。
CV曲线扫描分析能力亦能满足实验室对半导体材料及功率器件的研发及分析。
仪器设计频率为1kHz-2MHz，VGS电压可达±40V，VDS电压可达±200V/±1500V/±3000V，足以满足大多数功率器件测试。
在(zai)线客服(fu)
客服一
产品详情
– 一体化设计：
LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上(shang)位机软件
– 单管器件(jian)（点测）、模(mo)组器件(jian)（列(lie)表扫描）、曲线扫描(选(xuan)件(jian))
三(san)种测试方(fang)式
– 四寄生参数(shu)(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)
同屏(ping)一键测量(liang)及显示
– 标(biao)配2通道，可扩展至6通道，可测(ce)单管、多芯或模组器(qi)件
– CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描
– 电容快(kuai)速(su)充电技(ji)术，实现快(kuai)速(su)测(ce)试
TH510系列 半(ban)导体(ti)器(qi)件C-V特(te)性分析仪(yi)
TH510系列半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。
仪器采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试，适用于生产线快速测试、自动化集成。
CV曲线扫描分析能力亦能满足实验室对半导体材料及功率器件的研发及分析。
仪器设计频率为1kHz-2MHz，VGS电压可达±40V，VDS电压可达±200V/±1500V/±3000V，足以满足大多数功率器件测试。
仪器采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试，适用于生产线快速测试、自动化集成。
CV曲线扫描分析能力亦能满足实验室对半导体材料及功率器件的研发及分析。
仪器设计频率为1kHz-2MHz，VGS电压可达±40V，VDS电压可达±200V/±1500V/±3000V，足以满足大多数功率器件测试。
产品详情
– 一体化设计：
LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切(qie)换(huan)+上位机软(ruan)件
– 单管器(qi)件（点测）、模组(zu)器(qi)件（列(lie)表扫(sao)描）、曲线扫(sao)描(选件)
三种测试方(fang)式
– 四寄生(sheng)参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)
同屏一键(jian)测量(liang)及显示(shi)
– 标配2通道(dao)，可(ke)扩展至6通道(dao)，可(ke)测单(dan)管、多芯或模组器件
– CV曲线(xian)扫(sao)描(miao)、Ciss-Rg曲线(xian)扫(sao)描(miao)
– 电(dian)容快(kuai)速充电(dian)技术，实现快(kuai)速测试
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